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測試難點
電解電容:
| 問：系新公司的ICT機器測電容極性與其它廠家之ICT測電容極性有什么區別? |
答：本公司電容極性測試采用EC Jet測試技術，不但速度快、穩定，且可測率可達百分之百，不會漏測或誤判。其它廠家機器用漏電流法測試, 僅有30~40%之可測率。 |
| 問：系新公司的ICT機器電解電容極性可測率如何？ |
答：經實測證明可測率100%，不漏判。 |
| 問：電容極性怎么測(位置不規則的)？ |
答：排針可以有效捕捉偏移。 |
| 問：電容并聯電感(或小電阻)：需用交流電信號以相位分離法檢測，但有誤差，不易測出。 |
答：測試頻率達2MHz，盲點范圍較小(測Z時，測量信號避開諧振點) |
| 問：小電容300PF：標準值易偏高，較受旁路干擾，標準值易變更、不穩。 |
答：不會, 本公司采2MHz高頻信號源較易測試，除非實際線路構成測試盲點，否則測試上不成問題。 |
| 問：小電容并聯大電容：無法準確測量小電容。 |
答：此部份屬電路原理盲點，每一家ICT都測不到。 |
| 問：系新公司的EC Jet用三端測試，而別家也是用三端測試，可測率應該一樣？ |
答：他牌的電解電容三端測試采用的是漏電流法，因各家電解電容數值不同，所以可測率低，只有30~50%。而本公司EC Jet是從外部施加激發訊號后，再收集三端讀入之訊號，經DSP運算產生一組向量(Vector)，利用Pattern Match方式決定其正反極性, 100%正確測試極反及漏件。 |
| 問：系新公司的EC Jet測電解電容為何速度如此之快？ |
答：傳統漏電流三端測試因為是采充放電方式，所以測試時間長；本公司EC Jet因為是采外部激發訊號方式，不用充放電，所以測試速度快。 |
二極管
| 問：穩壓二極管最高可測到多少V？ |
答：最大逆向電壓可測到15V or 200V(選購)。 |
| 問：穩壓二極管我們公司有十伏至48伏，需要再加高壓板嗎？測試時需要用高低針嗎？ |
答：ZENER順向可測，逆向崩潰值可測到200V，需選購高壓模塊,不需用高低針。 |
| 問：齊納二極管( Zener Diode )：量測電壓為它的崩潰電壓，超過系統量測范圍。 |
答：此部份屬電路原理盲點。 |
| 問：二極管與電感并聯、二極管與跳線或保險絲并聯，無法準確量測。 |
答：此部份屬電路原理盲點。 |
| 問：二極管并聯二極管：無法測量。 |
答：DR mode 100%可以測, 這是我們的特點。 |
| 問：為什么二極管并個大電容﹐測不出來？ |
答：測得出，但較花時間。 |
IC
| 問：7805與7812能不能測試？ |
答：可以,需另購ATE模塊。 |
| 問：BGA能不能測？ |
答：專利TAJ技術專測BGA, 可以測。 |
| 問：IC之保護二極管并聯本身或其它IC之保護二極管，致IC腳空焊或折腳無法量測。 |
答：TAJ可以解決此類問題。 |
| 問：感應法可測率如何？ |
答：除了IC兩支腳間有小阻抗(<10奧姆)時，會產生測試盲點外，100%可測。 |
電阻
| 問：ICT可否能測小于1奧姆的電阻？ |
答：采用四線制量測，可以測到50毫歐。 |
| 問：目錄寫的0.1奧姆也可以測，可是下針的時候，針的阻值就超過了啊。 |
答：對, 兩針法offset到,四針法精密量可達50毫歐。 |
| 問：熱敏電阻，ICT能測嗎？ |
答：熱敏電阻的阻極是隨溫度的變化而變化的。測試溫度穩定的話，阻極變化很小，跟測普通的電阻一樣。測試溫度變化，阻極變化也大，要把測試誤差范圍放大，這樣可以解決大部分的熱敏電阻問題。 |
| 問：電阻并聯電容：因為電容之充放電效應,測量值轎標準值偏低，延遲時間不可超過500 M Sec 重復測試不可超過5次，測試較不穩。 |
答：測Z有機會，并聯大電容較花時間。 |
| 問：小電阻并聯大電阻：大電阻無法量測。（相差20倍以上） |
答：測等值電阻，要靠測試精度抓大電阻問題，小電阻測得到沒問題。 |
| 問：電阻并聯電感：在直流信號源下是近似短路，所以無法被準確測出。 |
答：此部份屬電路原理盲點，各家ICT都測不到。 |
| 問：電阻并聯跳線：所有的電流皆流經跳線，所以電阻無法被測出。 |
答：對, 你的電子學很好。 |
其它
| 問：單端點之線路斷線無法測試。 |
答：要植針才會Show出，或斷線端有可測零件時會測出該組件故障,不會指示開路。 |
| 問：晶振(Crystal)可否測出？ |
答：可以,需另購計頻模塊。 |
| 問：場效應管翹腳量(FET open)測得到？ |
答：除非是測試盲點，否則不可能測不到。 |
| 問：機器測試的時候，經常一次測不好需要再多測幾次才會Pass，要如何改善呢？還是機器有問題？ |
答：正常狀況下是一次即可pass，無鉛制程, 因接觸問題,可能需要設定重測3-4次。 |
| 問：ICT測不準，如電容10nF，ICT測為12nF，拔下LCR，測為10.5nF；這是為什么？ |
答：
- 目標不同，ICT解決生產問題，LCR解決來料質量問題，其設計針所對測試要求不一樣。
- 測試條件是否相同（頻率、電壓等）
- ICT是在線測（含線路板影響，電路、雜散電容，針床等），LCR單純測一組件，當然準確多了。
故此，此12nF非ICT測試不準確，而是包含了線路其它電容量，若測此單個電容一樣可測出10nF |
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