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ICT測試盲點問題
發表時間:2009-06-30 此文章有19680人閱覽

〔電容〕:

  1. 小電容并聯大電容:C1=1nf , C2=1uf (相差10倍以上),

           C1《《 C2 , C1無法準確測量。

     2. 電容并聯電感:需用交流電信號以相位分離法檢測,但有誤差,不易測出。

  (電容并聯小電阻)

  1. 小電容300PF:標準值易偏高,較受旁路干擾,標準值易變更、不穩。
  2. 電容極性裝反:(他牌之可測率約30~50%,視線路特性而定),ADSYS ECJ技術100%檢測,無誤漏判。

〔電阻〕:

  1. 電阻并聯電容:因為電容之充放電效應,測量值轎標準值偏低,延遲時間不可超過500 M Sec 重復測試不可超過5次,測試較不穩。
  2. 電阻并聯電阻:測量值Rx=R1*R2/(R1+R2)=須修改標準值,并聯電阻若有誤差值,不易測試出。
  3. 電阻并聯電感:在直流信號源下是近似短路,所以無法被準確測出。
  4. 電阻并聯跳線:所有的電流皆流經跳線,所以電阻無法被測出。
  5. 小電阻并聯大電阻:大電阻無法量測。(相差20倍以上)

〔二極管〕:

  1. 二極管與電感并聯:二極管無法準確測量。
  2. 二極管與跳線或保險絲并聯:二極管無法準確測量。
  3. 齊納二極管( Zener Diode ):量測電壓為它的崩潰電壓,超過系統量測范圍。(他牌未加高壓測試電路板的機型為10V)
  4. 二極管并聯二極管:無法測量,ADSYS可以用DR Mode測試,可以準確量測。

〔其它〕:

  1. 振蕩器(XTAL)功能是否正常。(振蕩器是以小電容方式作量測,4MHz以下可以量測漏件)
  2. IC之保護二極管并聯本身或其它IC之保護二極管,致IC腳空焊或折腳無法量測。
  3. 單端點之線路斷線無法測試。

問 題 點 類 別

解  決  方  案

系  新

他牌

電    容

電解電容極性

可測率100%,不漏判

可測率低于50%,會漏判

電容并聯電感

測試頻率達2MHz,盲點范圍較小
(測Z時,測量信號避開諧振點)

測試頻率僅1MHz,盲點范圍較大
(測Z時,測量信號避開諧振點)

小電容300p

2MHz高頻信號源較易測試
除非實際線路構成測試盲點,否則測試上不成問題

僅1MHz信號源,較難測試

小電容并聯大電容

電路原理盲點

電路原理盲點

電    阻

電阻并聯電容

測Z有機會,并聯大電容較花時間

小電阻并聯大電阻

測等值電阻,要靠測試精度抓大電阻問題,小電阻測得到沒問題

電阻并聯電感

電路原理盲點

電路原理盲點

電阻并聯跳線

電路原理盲點

電路原理盲點

二   極   體

二極管與電感并聯

電路原理盲點

電路原理盲點

二極管與跳線或保險絲并聯

電路原理盲點

電路原理盲點

齊納二極管( Zener Diode )

電路原理盲點

電路原理盲點

二極管并二極管

只能當作一個測,無法100%完整測試,另外一只反向測不出(aoi有解)

其    它

振蕩器(XTAL)功能是否正常

電路原理盲點

電路原理盲點

IC之保護二極管并聯本身或其它IC之保護二極管

電路原理盲點

電路原理盲點

單端點斷線

要植針才會Show出,或斷線端有可測零件時會測出該組件故障,不會指示開路

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