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ICT測試盲點問題
發表時間:2009-06-30此文章有19716人閱覽
〔電容〕:
1. 小電容並聯大電容:C1=1nf , C2=1uf (相差10倍以上),C1《《 C2 , C1無法準確測量。
2. 電容並聯電感:需用交流電信號以相位分離法檢測,但有誤差,不易測出。(電容並聯小電阻)
3. 小電容300PF:標準值易偏高,較受旁路干擾,標準值易變更、不穩。
4. 電容極性裝反:(他牌之可測率約30~50%,視線路特性而定),ADSYS ECJ技術100%檢測,無誤漏判。
〔電容〕:
1. 電阻並聯電容:因為電容之充放電效應,測量值轎標準值偏低,延遲時間不可超過500 M Sec 重覆測試不可超過5次,測試較不穩。
2. 電阻並聯電阻:測量值Rx=R1*R2/(R1+R2)=須修改標準值,並聯電阻若有誤差值,不易測試出。
3. 電阻並聯電感:在直流信號源下是近似短路,所以無法被準確測出。
4. 電阻並聯跳線:所有的電流皆流經跳線,所以電阻無法被測出。
5. 小電阻並聯大電阻:大電阻無法量測。(相差20倍以上)
〔二極體〕:
1. 二極體與電感並聯:二極體無法準確測量。
2. 二極體與跳線或保險絲並聯:二極體無法準確測量。
3. 齊納二極體( Zener Diode ):量測電壓為它的崩潰電壓,超過系統量測範圍。(他牌未加高壓測試電路板的機型為10V)
4. 二極體並聯二極體:無法測量,ADSYS可以用DR Mode測試,可以準確量測。
〔其它〕:
  • 振盪器(XTAL)功能是否正常。(振盪器是以小電容方式作量測,4MHz以下可以量測漏件)
  • IC之保護二極體並聯本身或其它IC之保護二極體,致IC腳空焊或折腳無法量測。
  • 單端點之線路斷線無法測試。
單端點之線路斷線無法測試。 解 決 方 案
系 新 他 牌

電解電容極性 可測率100%,不漏判 可測率低於50%,會漏判
電容並聯電感 測試頻率達2MHz,盲點範圍較小 (測Z時,測量信號避開諧振點) 測試頻率僅1MHz,盲點範圍較大 (測Z時,測量信號避開諧振點)
小電容300p 2MHz高頻信號源較易測試除非實際線路構成測試盲點,否則測試上不成問題 僅1MHz信號源,較難測試
小電容並聯大電容 電路原理盲點 電路原理盲點

電阻並聯電容 測Z有機會,並聯大電容較花時間
小電阻並聯大電阻 測等值電阻,要靠測試精度抓大電阻問題,小電阻測得到沒問題
電阻並聯電感 電路原理盲點 電路原理盲點
電阻並聯跳線 電路原理盲點 電路原理盲點


二極體與電感並聯 電路原理盲點 電路原理盲點
二極體與跳線或保險絲並聯 電路原理盲點 電路原理盲點
齊納二極體( Zener Diode ) 電路原理盲點 電路原理盲點
二極體併二極體 只能當作一個測,無法100%完整測試,另外一只反向測不出(aoi有解)
  盪器(XTAL)功能是否正常 電路原理盲點 電路原理盲點
IC之保護二極體並聯本身或其它IC之保護二極體 電路原理盲點 電路原理盲點
單端點斷線 要植針才會Show出,或斷線端有可測零件時會測出該元件故障,不會指示開路
[關閉窗口]

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